平芯微PW4054H,带OVP的4054充电IC,强质量,过压关闭输出保护
- 2024-06-13 11:34:00
- 技术管理员 原创
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我们都知道 USB 热拔插会产生浪涌和瞬间的尖峰电压。 同时我们经收集工厂对市面上多家品牌常规充电芯片的反馈收集, 我们会发现有 2-5 ‰左右的不良, 经过对芯片进行收集, 开盖, 研究, 分析, 收集到其中约 50% 是在瞬间尖峰电压过高导致超过芯片极限耐压, 过高的电压把芯片内部打损坏。
在此没有过压保护 OVP 芯片(如下图产品) 出来前, 差不多在快充充电器兴起之前。我们一般对于浪涌尖峰的处理方式大概有三种:
1 , 正极加串电阻的方式, 适合小电流, 大电流会损耗电压值和效率, 同时电流大时,电阻本身温度也会高, 优点小, 方便, 缺点: 适合 500mA 左右电流以下
2 , 加电解电容, 电解电容的有较高的 ESR 等效串联电阻来吸收, 有的人说陶瓷贴片电容也有, 但是 ESR 低, 起不到好的效果。 优点成本低廉, 缺点电容高度, 放不下对体积有要求的产品, 有不少局限性
3 , 加 TVS 管
4 , 加 OVP 过压保护芯片平芯微同步推出了众多规格的过压 OVP 保护芯片, 和增加了可调限流 OCP+过压 OCP 二合一的保护芯片, 满足很多场景需求。
在手机快充越来越多, 基本知名品牌都把快充做新手机标配了, 市面上快充充电器(
5V,9V,12V,20V
) 也越来越多, 我们知道产品都会被市场引导区分出中高低三种品质充电器出来。 刚好在
TWS
耳机兴起的时候, 过压保护
OVP
芯片才得到了重要, 市场数量大幅度增加, 耳机因为放在耳朵旁, 距离人体脆弱的器官都太近, 需要更好的保护。 再加之国外客户很早就意识到了快充充电器万一损坏带来的危险, 需要增加过压保护
OVP
芯片等等综合考虑。平芯微也早早推出了集成 OVP 芯片+4056 充电管理的单节锂电池充电芯片 PW4056H,也根据市场需求推出了集成输入耐压 28V, 6.8V 的 OVP 过压保护和 BAT 脚耐压提高到 20V的系列高品质, 高双耐压产品单节锂电池充电芯片, PW4056HH(ESOP8 封装, ), PW4057H( SOT23-6 封装) , PW4054H( SOT23-5 封装)
1, 常见小电池几百 mAH 的我们一般根据 LED 灯指示选择有 4054 和 4057,SOT23-5 和 SOT23-6 的线性充电 IC, 平芯微的 PW4054H 和 PW4057H 在品质和可靠性尤为突出, 具有输入 OVP 过压6.5V 关闭充电, 输入同时可以抗 28V 耐压, 及时快充充电器误输入 9V,12V 也能不会损坏, 正常没有这个功能的芯片, 在如今快充充电器普及很高的环境下, PW4054H 和 PW4057H 在高端电子产品具有很高位置。2, 电池 1000-2000mah 一般也有客户任然选择线性充电, 但是选择具有更高电流的 4056, 最高1A, 。 4054,4056 因为是线性充电, 具有很强, 简洁, 容易的电路设计很受大家喜欢。 在 4056 中, PW4056HH 具备了输入 OVP 过压保护时, 还具有电池耐高压 20V 保护, 这个 20V 耐压很多人不理解, 认为锂电池 4.2V,为什么需要 20V 耐压呢?实际在电源领域, 我们需要使用示波器和熟悉掌握才能在电源行业理解和分析。 当锂电池再重负载放电时, 如果突然的断开, 会产生瞬间的浪涌电流和瞬间尖峰电压, 这个瞬间的尖峰电压可能会达到 6V,8V 等, 没有固定性, 足够高的耐压, 才能很多的面对不对情况下的应用环节和场景。值得好的是, PW4054H 和 PW4057H, PW4056HH 都是具有输入和输出高耐压的充电 IC 了。